Rasterelektronenmikroskop (Tabletop)JEOL
JCM-7000
Rasterelektronenmikroskop (Tabletop)
JEOL
JCM-7000
Baujahr
2024
Zustand
Ausstellungsmaschine
Standort
Freising 

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Daten zur Maschine
- Maschinenbezeichnung:
- Rasterelektronenmikroskop (Tabletop)
- Hersteller:
- JEOL
- Modell:
- JCM-7000
- Baujahr:
- 2024
- Zustand:
- wie neu (Ausstellungsmaschine)
- Funktionsfähigkeit:
- voll funktionsfähig
Preis & Standort
- Standort:
- Freising, Deutschland

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Details zum Angebot
- Inserat-ID:
- A198-35865
- Aktualisierung:
- zuletzt am 26.08.2025
Beschreibung
Das JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent.
Lhodpfsw Sm T Hjx Aarsp
Eigenschaften:
• SE-/BSE-Detektion
• Vergrößerung bis x100.000, Auflösung ca. 8nm
• Niedervakuum-Betrieb für nicht-leitfähige Proben
• Hard- und Software-integriertes EDX-System zur Elementcharakterisierung
• Live-Elementanalyse, Live-Abbildung (inkl. 3D-Abbildung / Topographie)
• Intuitive Bedienung mit Rezepten, Autofunktionen, Bildmontagen, etc.
• Große Kammer für Proben bis 80mm ∅ bzw. 50mm Höhe
• Kompakt & mobil
• Maße (Main Unit): 324 mm W x 586 mm D x 566 mm H
Lhodpfsw Sm T Hjx Aarsp
Eigenschaften:
• SE-/BSE-Detektion
• Vergrößerung bis x100.000, Auflösung ca. 8nm
• Niedervakuum-Betrieb für nicht-leitfähige Proben
• Hard- und Software-integriertes EDX-System zur Elementcharakterisierung
• Live-Elementanalyse, Live-Abbildung (inkl. 3D-Abbildung / Topographie)
• Intuitive Bedienung mit Rezepten, Autofunktionen, Bildmontagen, etc.
• Große Kammer für Proben bis 80mm ∅ bzw. 50mm Höhe
• Kompakt & mobil
• Maße (Main Unit): 324 mm W x 586 mm D x 566 mm H
Anbieter
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