Elektronenmikroskop gebraucht kaufen (6)

Zustand: gebraucht, Funktionsfähigkeit: ungeprüft, Maschinen-/Fahrzeugnummer: SX-50, Gebrauchte Cameca SX-50 Elektronen-Mikrosonde Es wird eine Elektronenmikrosonde vom Typ Cameca SX-50 verwendet (Electron Probe MicroAlyses). Es verfügt über einen 6-Zoll-Tisch, 3 WDX-Spektrometer mit mehreren Kristallen: LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2, PC3. Elektronenstrahlmikroanalysen (EPMA) gelten allgemein als mikroanalytische Techniken, die in der Lage sind, Materialien abzubilden oder zu analysieren, die wir im Allgemeinen nicht mit der Auflösung sichtbarer Techniken beobachten können. Das System ist mit allen Büchern, Servicehandbüchern, Software und Computer komplett. Auch viele Teile. Dodpfxjwnb D Tj Aidscg 1 x Leybold Trivac D16B Vakuumpumpe 1 x Alcatel 2012A Vakuumpumpe 2 x integrierte Turbopumpen

Baujahr: 2022, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Beschreibung (genaue Ausstattung): o 5-Achsen-Stage o Moderne, erweiterbare Nutzeroberfläche mit EDX-Integration und Bildmontage o SE-Detektor o Szintillator-BSE-Detektor (rückziehbar) o In-Lens-Detektor o Niedervakuum-System mit BSE-Dektor (rückziehbar) o Vollständig software-integriertes JEOL-EDX-System (60mm²) o In-Column-Strommessung o Navigationskamera Dcsdpfoytwnkox Aidog o Live-Kamera o Bedienpult o Schreibtisch, PC mit Windows OS, 2 x 24“ Monitor, Keyboard

Baujahr: 2024, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Das JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent. Eigenschaften: • SE-/BSE-Detektion Dcsdpfjytwbkex Aidjg • Vergrößerung bis x100.000, Auflösung ca. 8nm • Niedervakuum-Betrieb für nicht-leitfähige Proben • Hard- und Software-integriertes EDX-System zur Elementcharakterisierung • Live-Elementanalyse, Live-Abbildung (inkl. 3D-Abbildung / Topographie) • Intuitive Bedienung mit Rezepten, Autofunktionen, Bildmontagen, etc. • Große Kammer für Proben bis 80mm ∅ bzw. 50mm Höhe • Kompakt & mobil • Maße (Main Unit): 324 mm W x 586 mm D x 566 mm H

Zustand: neuwertig (gebraucht), Baujahr: 2024, Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss XB 350 Dcodew Rdvvepfx Aidjg Ausstattung & Zubehör • ohne FIB-Säule • SmartSEM- und SmartFIB-Software • GIS mit Pt-Präkursor • integrierter Plasma Cleaner • EDX Oxford Xplore 30 (inkl. Interface & Software) • automatische 200 mm Schleuse • elektrische Durchführung (2 x 15 Kanäle) • Umwälzkühler • Quiet Mode Vakuumpuffertank • ... sowie Tisch, Bildschirm, Bedienkonsolen (Zeiss-proprietäre Tastatur + Joystick) und div. Probenhalter Inbetriebnahme: August 2024 Standort: Mainz Verfügbarkeit: nach Absprache kurzfristig verfügbar. Das Gerät ist noch in Betrieb und kann gerne besichtigt und vorgeführt werden. Das Gerät weist keinerlei Mängel oder Macken auf und ist uneingeschränkt funktionstüchtig. Weitere Informationen gerne auf Anfrage!

Zustand: sehr gut (gebraucht), Typ: Jeol JSM-6490 Dcodpfx Aiemn Rcqjdjg Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft Windows XP Professional. Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale: Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 X Beschleunigungsspannung 0.3 - 30 kV Wolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional) großer vollmotorisierter Probentisch mit exzentrischer Kippung, inkl. Graphische Navigation auf dem Probenhalter Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Bildfeldgesteuerte Navigation über 2 Navigatoren Relative Koordinaten-Navigation Speichern und Wiederanfahren von Probenpositionen Einstellbares Bildausschnittverfahren der Probebühne Blldfeldkorrektur während der Rotation über rechnergesteuerte exzentrische Rotation Bildfeldkorrektur während der Kippung über rechnergesteuerte exzentrische Kippung Berechnung des möglichen Kippwinkels anhand der Probengeometrie Automatisches Fokus-Nachführen bei Verfahren der Probe in Z-Richtung Intelligente Limit Schalter für die motorisierten Achsen Verfahrweg Probentisch: x=125mm Y=100mm z = 5 bis 80 mm (stufenlos) T = -10°C bis+ 90°C R= 360°C (endlos) Sekundärelektronen-Detektor für Hochvakuumbetrieb Neuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchste Bildauflösung auch bei großen Kippwinkeln Garantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und 15 nm bei 1 kV Gleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer Detektoren Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Leistungsfähige Funktionen zur Bildvermessung Movie-Funktion zur Aufnahme dynamischer Prozesse Vielseitige Probenkammer mit zahlreichen Erweiterungsmöglichkeiten: freie Flansche z. B. für EDX, WDX, EBSD, Kathodolumineszenz etc. Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystem bestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier hochleistungsdiffusionspumpe sowie elektromagnetischer Ventilsteuerung Umfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienung und Ausfall externer Medien Ergonomischer, höhenverstellbarer Systemtisch REM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern, Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden Zusatzausstattung für Rasterelektronenmikroskop Turbomolekularpumpe anstelle der serienmäßigen Diffusionspumpe Bei Verwendung einer Turbomolekularpumpe wird für den Betrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt. Weitere REM-Ausstattung: PC zur Steuerung des REMs inkl. TFT-Monitor ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Bruker EDX Software wird nach Kauf an den neuen Eigentümer übertragen! Stickstofffreies, energiedispersives Röntgenanalysesystem inkl.: SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer Energieauflösung Nachweis aller Elemente ab Bor Vibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei) Pulsprozessor TFT-Monitor Spektren Messung und Elementidentiflzlerung Vollautomatische, quantitative, standardfreie Elementanalyse Bildeinzug Superschnelles qualitatives Line Scan Superschnelles qualitatives Elementmapping Datenmanagment und -archivierungssystem Reporterstellung und Ergebnisausgabe Datenkommunikation Installation und Einweisung HyperMap Multipoint Analyse Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III Lieferumfang: (Siehe Fotos) Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Zustand: sehr gut (gebraucht), ZEISS Typ: DSM 962 Das digitalisierte Raster-Elektronenmikroskop DSM 962 ist ein mit integriertem 4 MB-Bildspeicher, einer 40 MB Festplatte zur Bildspeicherung intern, sowie Laufwerken zum externen Ablegen von Daten und Bildern ausgerüstetes Gerät. Damit ist es möglich, schnell und auf einfache Weise Erkenntnisse über die Zusammensetzung und Morphologie von Oberflächen der Präparate bis weit in den Sub-Mikrometerbereich hinein zu gewinnen. Mit einem Vergrößerungsbereich von 5fach bis 300.000fach ist sowohl die Untersuchung von Makrostrukturen als auch von Mikrostrukturen möglich. Durch spezielle Zusätze kann der Anwendungsbereich noch erheblich ausgeweitet werden, womit beispielsweise analytische Untersuchungen in Mikrobereichen der Oberfläche möglich werden. Die Bedienung des Gerätes kann sowohl über konventionelle Schaltelemente als auch über die Tastatur bzw. Maus (Zusatz) erfolgen. Elektronenoptik und Vakuumsteuerung werden konventionell. Funktionen des Bildspeichers mit der Tastatur oder Maus (Zusatz) bedient. Zentral auf der Bedienungsfront befindet sich ein separater Infoschirm für die Darstellung der Menüs. Diese Gebrauchsanleitung soll dem Benutzer als Leitfaden dienen, um mit dem Gerät die bestmöglichen Ergebnisse zu erzielen. Die Erkläürungen wurden so einfach wie möglich gehalten, um auch einem weniger erfahrenen Benutzer das erforderliche Rüstzeug zu vermitteln. Vergrößerungsbereich: 20x bis 300.000 fach bei 7 mm Arbeitsabstand Stufen in einer Folge von 1-2-3-5-10 Minimalvergrößerung: 5x bei 50 mm Arbeitsabstand Auflösung: 4 nm - garantiert mit Wolframkathode bei 30 kV, 6 mm Arbeitsabstand, ungekipptem Präparat 25 nm - garantiert mit Wolframkathode bei 1kV, 6 mm Arbeitsabstand, ungekipptem Präparat 3,5 nm - garantiert mit optimaler LaB6-Kathode bei 30 kV, 6 mm Arbeitsabstand, ungekipptem Präparat Lieferumfang: (DSM 962 mit Zubehör wie abgebildet) Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten. Dodpfx Aijfcwwnsdjcg Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.