Jeol Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop gebraucht kaufen (3)

Baujahr: 2025, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Beschreibung (genaue Ausstattung): o 5-Achsen-Stage o Moderne, erweiterbare Nutzeroberfläche mit EDX-Integration und Bildmontage o SE-Detektor o Szintillator-BSE-Detektor o In-Lens-Detektor o Niedervakuum-System mit BSE-Dektor o Vollständig software-integriertes JEOL-EDX-System o In-Column-Strommessung o Navigationskamera Tjdpjzn Ihpsfx Amuoc o Live-Kamera o Bedienpult o Schreibtisch, PC mit Windows OS, 2 x 24“ Monitor, Keyboard

Zustand: sehr gut (gebraucht), Typ: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft Windows XP Professional. Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale: Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 X Beschleunigungsspannung 0.3 - 30 kV Wolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional) großer vollmotorisierter Probentisch mit exzentrischer Kippung, inkl. Graphische Navigation auf dem Probenhalter Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Bildfeldgesteuerte Navigation über 2 Navigatoren Relative Koordinaten-Navigation Speichern und Wiederanfahren von Probenpositionen Einstellbares Bildausschnittverfahren der Probebühne Blldfeldkorrektur während der Rotation über rechnergesteuerte exzentrische Rotation Bildfeldkorrektur während der Kippung über rechnergesteuerte exzentrische Kippung Berechnung des möglichen Kippwinkels anhand der Probengeometrie Automatisches Fokus-Nachführen bei Verfahren der Probe in Z-Richtung Intelligente Limit Schalter für die motorisierten Achsen Verfahrweg Probentisch: x=125mm Y=100mm z = 5 bis 80 mm (stufenlos) T = -10°C bis+ 90°C R= 360°C (endlos) Sekundärelektronen-Detektor für Hochvakuumbetrieb Neuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchste Bildauflösung auch bei großen Kippwinkeln Garantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und 15 nm bei 1 kV Gleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer Detektoren Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Leistungsfähige Funktionen zur Bildvermessung Movie-Funktion zur Aufnahme dynamischer Prozesse Vielseitige Probenkammer mit zahlreichen Erweiterungsmöglichkeiten: freie Flansche z. B. für EDX, WDX, EBSD, Kathodolumineszenz etc. Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystem bestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier hochleistungsdiffusionspumpe sowie elektromagnetischer Ventilsteuerung Umfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienung und Ausfall externer Medien Ergonomischer, höhenverstellbarer Systemtisch REM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern, Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden Zusatzausstattung für Rasterelektronenmikroskop Turbomolekularpumpe anstelle der serienmäßigen Diffusionspumpe Bei Verwendung einer Turbomolekularpumpe wird für den Betrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt. Weitere REM-Ausstattung: PC zur Steuerung des REMs inkl. TFT-Monitor ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Bruker EDX Software wird nach Kauf an den neuen Eigentümer übertragen! Stickstofffreies, energiedispersives Röntgenanalysesystem inkl.: SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer Energieauflösung Nachweis aller Elemente ab Bor Vibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei) Pulsprozessor TFT-Monitor Spektren Messung und Elementidentiflzlerung Vollautomatische, quantitative, standardfreie Elementanalyse Bildeinzug Superschnelles qualitatives Line Scan Superschnelles qualitatives Elementmapping Datenmanagment und -archivierungssystem Reporterstellung und Ergebnisausgabe Datenkommunikation Installation und Einweisung HyperMap Multipoint Analyse Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III Lieferumfang: (Siehe Fotos) Zustand: gebraucht / used Tedpfx Amszd Ufajuec (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Baujahr: 2024, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Das JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent. Eigenschaften: Tjdpfx Ajzn Ih Aemusc • SE-/BSE-Detektion • Vergrößerung bis x100.000, Auflösung ca. 8nm • Niedervakuum-Betrieb für nicht-leitfähige Proben • Hard- und Software-integriertes EDX-System zur Elementcharakterisierung • Live-Elementanalyse, Live-Abbildung (inkl. 3D-Abbildung / Topographie) • Intuitive Bedienung mit Rezepten, Autofunktionen, Bildmontagen, etc. • Große Kammer für Proben bis 80mm ∅ bzw. 50mm Höhe • Kompakt & mobil • Maße (Main Unit): 324 mm W x 586 mm D x 566 mm H